測量開關(guān)接觸電阻的原理

　　定義為觸點兩端的電壓與流過一對閉合觸點的電流之比。它遵守歐姆定律。Metal 1和Metal 2之間有一個接口。來自電流源的電流I流過這個接口，可以從電流表中讀取。然后可以從電壓表中將接口上的電壓降讀取為 U。然后可以計算接觸電阻值Rx。

　　Rx=U/I

　　由于接觸電阻隨環(huán)境和電流的通過而變化，因此測量條件應(yīng)接近使用條件。準確的測量必須使用四端測量技術(shù)和熱電動勢消除技術(shù)。這種間接測量方法可用于測量接觸電阻或回路電阻。它需要三個測試點、三個步驟和三個公式。該方法已被證明是正確的，也可用于校準回路電阻標準。

　　接觸電阻測試的典型方法

　　四線 (Kelvin) 直流電壓降是使用微歐表進行接觸電阻測試的典型方法，它通過消除自身的接觸電阻和測試引線的電阻來確保更準確的測量。

　　接觸電阻測試使用兩個電流連接進行注入和兩個電位引線進行電壓降測量；電壓電纜必須盡可能靠近要測試的連接，并且始終位于由連接的電流引線形成的電路內(nèi)。

　　基于對電壓降的測量，微處理器控制的微歐表計算接觸電阻，同時消除連接中熱 EMF 影響可能產(chǎn)生的誤差（熱 EMF 是當兩種不同金屬接觸時產(chǎn)生的小熱電偶電壓）連接在一起）它們將被添加到測量的總電壓降中，如果不通過不同的方法（極性反轉(zhuǎn)和平均，熱電動勢幅度的直接測量等）從測量中減去它們，則會將誤差引入觸點電阻測試。

　　如果在小電流下測試斷路器接觸電阻時獲得低電阻讀數(shù)，建議在更高電流下重新測試觸點。為什么我們會受益于使用更高的電流？較高的電流將能夠克服端子上的連接問題和氧化，在這些條件下，較低的電流可能會產(chǎn)生錯誤（較高）的讀數(shù)。

　　在接觸電阻測試中保持一致的測量條件非常重要，以便能夠與之前和未來的結(jié)果進行比較以進行趨勢分析。因此，在進行定期測量時，接觸電阻測試必須在相同的位置，使用相同的測試引線（始終使用制造商的校準電纜）和相同的條件下進行，以便能夠知道何時連接、連接、焊接或設(shè)備將變得不安全。